MPA FT-NIR

為質量保證和方法發展而設計的堅固的近紅外光譜儀。該系統配備了一個內部抽樣隔間，用于傳輸測量。Mpa可以通過附加的取樣附件升級，如光纖探針、積分球、外部傳輸單元、自動取樣輪和樣品轉子。為了控制光譜儀的光學和信號處理，需要一個基于 pc 的數據系統。

特點：

外殼: 堅固、密封和干燥的外殼。

干涉儀:堅固，垂直，不受沖擊影響，高穩定性，鍍金的角反射鏡和無磨損軸承，專有的石英涂層分束器:

近紅外光源：風冷近紅外光源(12v，20w)

樣品艙/光纖組件

探測器:高精度熱電制冷InGaas 探測器

光譜范圍:12,800 - 4,000 cm-1

外部傳輸裝置：

探測器：高靈敏度 ingaas 探測器，可選配 si 探測器

光譜范圍:12,800 - 5,800 cm-1,和15,500 - 9,000 cm-1

參數：

分辨率: 2 cm-1

波數重現性：好于 0.04 cm-1

波數精度：好于0.1 cm-1

光度精度:好于0.1% T

光度線性：優于1.00 ± 0.05(斜率) ; 0.00 ± 0.05(偏移)